探針的使用壽命完全取決於其應用類型。磨耗發生在測頭球體與被測工件接觸的位置。例如，如果始終使用同一點進行掃描（例如掃描平面），則探針的使用壽命會比掃描圓形時更短。這是因為球體的整個赤道都處於受力狀態。其他影響探針壽命的因素包括掃描距離、速度、偵測力、測量環境以及被測材料。

建議您為每個探針製作一張品質卡，並定期使用該卡測試探針。這將有助於您獲得特定探針的可靠平均使用壽命。